DP:digital power,数字电源;
DA:die attach, 焊片;
FC:flip chip,倒装。
半导体封装简介:
1、半导体生产流程由晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试组成。半导体封装是指将通过测试的晶圆按照产品型号及功能需求加工得到独立芯片的过程。
2、封装过程为:来自晶圆前道工艺的晶圆通过划片工艺后,被切割为小的晶片(Die),然后将切割好的晶片用胶水贴装到相应的基板(引线框架)架的小岛上,再利用超细的金属(金、锡、铜、铝)导线或者导电性树脂将晶片的接合焊盘(Bond Pad)连接到基板的相应引脚(Lead),并构成所要求的电路;然后再对独立的晶片用塑料外壳加以封装保护,塑封之后,还要进行一系列 *** 作,如后固化(Post Mold Cure)、切筋和成型(Trim&Form)、电镀(Plating)以及打印等工艺。
3、封装完成后进行成品测试,通常经过入检(Incoming)、测试(Test)和包装(Packing)等工序,最后入库出货。
4、典型的封装工艺流程为:划片、装片、键合、塑封、去飞边、电镀、打印、切筋和成型,外观检查、成品测试、包装出货。
不是。安靠封装测试上海有限公司建立2001年3月8日,是全球半导体封装测试外包服务业中*大的独立供应商之一。其中DA是设备维护技术员,并不属于普工,主要负责维护现场正常作业秩序,测试治具修复、机台保养工作,确保产线正常运行。COB: 是指Chip On Board。这种方式是将最原始的芯片(Bare Die,裸片),通过打线(Wire Bond)的方式把芯片上的信号和线路板连接在一起。这种方式需要有专门的DA,WB等一些列机台配合。\x0d\x0aCSP:这种方式是预先把Die通过半导体封装做成类似BGA的方式。但是由于封装的尺寸很小,所以叫做Chip Scale Package (芯片尺寸封装)。\x0d\x0aTSV:是指Through Silicon Vias(硅通孔)技术。TSV对比CSP,差别在于在封装设计的时候,可以通过导通孔(Via)来减少走线面积。\x0d\x0aPLCC:Plastic Leaded Chip Carrier,这种方式是在COB基础上演变出来的。相当于把sensor预先通过COB制程打到基板上,然后再盖上支架(Bracket),贴上IR,成为PLCC。PLCC的底部四边含有焊盘,这样就可以通过SMT方式把PLCC打到FPC上。SMT后可以再组装马达和镜头做成摄像头模组。\x0d\x0aCLCC:Ceramic leaded chip carrier,和PLCC类似。区别在于基板为陶瓷基板。这是早期模组才使用的一种方式。\x0d\x0aNeopac:是韩系sensor比较常见到的一种方式,Neopac是厂商起的名字。这种封装是预先在玻璃上通过做出线路,然后再通过flip chip(覆晶,倒装)的方式把sensor对位贴合到线路上。再通过值球方式在玻璃的四周预留大锡球,以便进行SMT。欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
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