透射电镜 zeiss libra 200怎么样

该款电镜有两种配置：LIBRA 200 CS TEM以能量过滤型200KV LIBRA TEM为基础，做了物镜透镜的球差校正。通过使用校正器，可以采集分辨率0.7A的图像。许多应用将会得益于这个设计，尤其是半导体或太阳能电池的成像，铜铁合金晶界、核辐射对屏蔽材料造成的损坏等都能检测。在这些应用领域中，对于深度理解原子级别材料控制内含的物理或化学过程非常必要，同时还能确保设备中的功能性。CS校正器的另一个优势是当把加速电压减到80KV时，分辨率还低于1A。光束的损伤因此可以减少，这样就可以分析碳化纳米管等敏感材料了。LIBRA 200 STEM具有为聚光镜配备的校正器，可以用于在扫描模式下对分辨率远远低于1A和极高分辨率下样品化学分析的成像，尤其是EELS。校正后聚光镜允许探针尺寸减小到1A，同时增大强度。此外，独特的单色仪把能量扩散减小到0.15eV。这对于材料科学的基础研究尤其有利(尤其是纳米颗粒的化学分析)。一、德国蔡司LIBRA 200 FE电子显微镜产品简介1.LIBRA 200 FE 能量过滤式透射电子显微镜，配备了OMEGA型二阶校正式能量过滤器2.能量过滤式透射电子显微镜配备了独特的OMEGA型镜筒能量过滤器和库勒（Koehler）照明系统3.无油多级真空系统4.稳定度达到亚ppm5.基于Windows XP WinTEM图形用户界面二、蔡司电子显微镜LIBRA200 FE技术参数1.LIBRA 200 FE2.点分辨率：0.24nm3.能量分辨率：＜0.7eV4.加速电压：200kv5.放大倍率：8-1，000，000x6.电子q：热场发射电子q7.照明系统：Koehler（库勒）（平行束照明系统）8.真空系统：完全无油系统9. *** 作界面：基于Windows XP WinTEM

电子显微镜也叫做电镜，通过五十多年的发展如今成为科学实验中不可或缺的重要工具。那么电子显微镜哪个牌子好呢?下面就让小编为大家介绍电子显微镜哪个牌子好吧!

一、电子显微镜哪个牌子好

1、JEOL 日本电子

估计大家对于日本电子都不会陌生，日本电子的简称是JEOL，是全球一流的科学仪器生产商。JEOL如今面向全国，制造以及销售各型扫描电子显微镜、电子探针、X射线荧光光谱仪、质谱仪、半导体制造检查装置等。产品应用涵盖了材料科学等学术技术领域，在金属材料，矿产，精细化工，生物样品等的定性和定量分析鉴定上广受推崇。

2、ZEISS 蔡司

蔡司不管是在国内还是国外都非常具有名气，该品牌成立于一八四六年，距离现在已有一百七十二年的发展历史，企业总部坐落在德国，是该行业中的领导者，全国领先的光学及电子观测制造商，在光学及光电子学领域处于领先地位的全球性国际化公司。

3、LIOO

LIOO也是业界里颇具知名度的品牌之一，该品牌自成立以来就一直专注于电子显微镜的研发、制造以及销售，通过多年来的不懈努力如今已被世人所熟知。

4、HITACHI 日立

众所周知，日立的名气非常大，该品牌成立于一九一零年，距离现在已有一百多年的发展历史，品牌来源于日本，是世界500强综合跨国集团，于一九七九年在北京建立了首家日资企业的事务所，保障人们安全舒适出行的铁路等交通系统，运用通过健康管理、诊断、医疗技术等提供健康生活的医疗保健等等。

5、汇光

汇光也是国内尽人皆知的品牌之一，该品牌诞生于二零零三年，至今已经走过了十五个春秋，自成立以来就一直致力于显微视觉、自动化测量以及相关软件的研究、制造以及销售。

2018 年，来自康奈尔大学的研究团队建造了一个高功率的探测器，通过结合“ptychography”算法驱动，创造了一个世界纪录--将最先进的电子显微镜的分辨率提高了 2 倍。尽管这项研究非常成功，但这种方式有个弱点，那就是只适用于几个原子厚的超薄样品，如果超出厚度范围就会导致电子以无法分离的方式散射。

现在由应用和工程物理系(AEP)的 Samuel B. Eckert 工程教授 David Muller 带领的科学团队，利用更复杂的三维重建算法，使用电子显微镜像素阵列探测器（EMPAD）将自己的记录提高了 2 倍。其分辨率是如此精细，唯一的模糊是原子本身的热抖动。

该小组的论文 "Electron Ptychography Achieves Atomic-Resolution Limits Set by Lattice Vibrations "于5月20日发表在《科学》上。该论文的主要作者是博士后研究员陈振（Zhen Chen，音译）。

Muller 表示：“这不仅仅是创造了一个新的记录，更将会成为分辨率的一个终极极限。我们现在基本上可以以一种非常简单的方式弄清原子的位置。这为我们很长时间以来一直想做的事情开辟了大量新的测量可能性。它还解决了一个长期存在的问题--消除汉斯-贝特在1928年提出的样品中光束的多重散射--这在过去阻碍了我们这样做”。

斑点成像的工作原理是扫描材料样品的重叠散射图案，并寻找重叠区域的变化。Muller 说：“我们正在追逐斑点图案，这些图案看起来很像猫咪同样着迷的那些激光笔图案。通过观察图案的变化，我们能够计算出引起该图案的物体的形状”。

探测器稍微失焦，模糊了光束，以便尽可能地捕捉最广泛的数据。然后，这些数据通过复杂的算法进行重建，形成具有皮米（一万亿分之一米）精度的超精确图像。

Muller 表示：“有了这些新的算法，我们现在能够纠正我们显微镜的所有模糊，以至于我们剩下的最大的模糊因素是原子本身在晃动的事实，因为这就是原子在有限温度下发生的情况。当我们谈论温度时，我们实际上测量的是原子晃动的平均速度”。

研究人员有可能通过使用一种由较重的原子组成的材料，或者通过冷却样品，再次打破他们的记录。但是，即使在零温度下，原子仍然有量子波动，所以改进的幅度不会太大。

这种最新形式的电子分层成像技术将使科学家们能够在所有三个维度上定位单个原子，否则它们可能会被其他成像方法所隐藏。研究人员还将能够找到不寻常配置的杂质原子，并对它们和它们的振动进行逐一成像。这可能对半导体、催化剂和量子材料--包括那些用于量子计算的材料--的成像特别有帮助，同时也有助于分析材料连接在一起的边界处的原子。

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