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故答案为:除去氧气;2Cu+O2
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(2)B中生成水,为防止水吸收热量而导致D中温度较低,应在C中用碱石灰或无水氯化钙吸收水,
故答案为:无水CaCl2(或碱石灰等);吸收水蒸气;
(3)点燃氢气前将E(带导管胶塞)接在D的出口处,可由于氢气的点燃,可用于检验氢气的纯度,防止氢气不纯而爆炸,故答案为:检验氢气纯度;
(4)A是安全瓶,填装铜屑,可吸收热量,降低温度,可以防止氢气燃烧回火,引起爆炸,故答案为:大量铜屑可以吸收热量,降低温度.
首先说明一下,半导体中所谓的工艺指得是IC在由设计文件生产成为实体的过程步骤和技术(这是我自己组织的语言,明白是什么意思就成了),比如你所说掺杂、注入、光刻、腐蚀都是现在比较流行也是传统的半导体生产工艺。 而扩展到集成电路上,这个“工艺”一般又多了一层“特征尺寸”的感念,比如人们常说“我这CPU是core2duo,用得是45nm的工艺”。当然现在最先进的工艺已经达到了30nm左右,甚至在实验室中有更低的数值得以实现.至于你说的MOS,CMOS这些东西,我个人认为不能称之为“工艺”,而是电路组成形式。以CMOS为例,它的意思是“互补对称型MOS”,即电路中的基本单元是一个反向器(由一个NMOS和一个PMOS构成),--整个电路都是由这种单元组成,因此它是一种电路组成形式。
工艺和电路组成形式的对应关系是:CMOS为单极型工艺(口头上即称为COMS工艺,所以容易产生你的那种误解),是数字电路的代表;TTL电路形式为双极型工艺(口头上就是双极型),是模拟电路的代表。而前面所说的“掺杂、注入、光刻、腐蚀”多用于单极型工艺,双级型也类似但具体还是有些不同的。
die bond,wire bond则是封装工艺。
如果我去回答面试的那几个问题时,我基本上就从“特征尺寸”和工艺流程上说一下。中国大陆现在能做的最小工艺尺寸就是45nm(如INTEL的大连厂)了,要算上台湾的话,基本能做到世界最先进的水平(TCMC和中芯国际),不过知识产权是不是自己的就不好说了。第三个问题我会反问下考官是是指的电路形式还是工艺流程,因为现在有些企业负责的人自己业务都搞得不怎样,问问题也比较奇怪
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