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对基于SoC系统设计的探查
调试复杂电子系统从来都不是一项简单的工作,但至少是可以实现的。您要找到问题所在。采用您最相信的“示波器”,通过模拟电路到数字转换,您可以追溯到问题的源头。然后,编写测试小程序,检查驱动和外设,增加一些
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3D IC测试的现在与未来
用于测试3D IC的解决方案目前已面世,而且会越来越成熟。在2015年的国际测试与失效分析研讨会(ISTFA)上,笔者发表了题为《三维数字测试有何新进展?》(What is New in 3D, Di
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2016年台湾IC产业表现优于预期
根据半导体贸易统计组织(WSTS)的最新数字,2016年第四季(16Q4)全球半导体市场销售值达930亿美元,较上季(16Q3)成长5.4%,较前一年同期成长12.3%;销售量达2,177亿颗,较上季
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不可不知的,关于小电流测量技巧
小电流换种说法就是高电阻,测量小电流有两种基本技术:分流法和反馈安培计法。在测试中,在理想情况下,电流表对电路完全没有影响。然而,在实际测量中,可能会出现多种误差源。正如我们在下文中讨论的一样,这些误
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Mellanox Technologies 选用 Mentor Graphics Tessent阶层化ATPG解决方案
俄勒冈州威尔逊维尔,2015 年 5 月 18 日 — Mentor Graphics 公司(纳斯达克代码:MENT)今天宣布,Mellanox Technologies 已将全新的 Mentor®
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IC静电放电的测试方法
1 前言静电放电(ESD,electrostaTIc discharge)是电子工业最花代价的损坏原因之一,它会影响到生产合格率、制造成本、产品质量与可靠性以及公司的可获利润。随着IC产品的制造工艺不
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Advantest将于3月10-11日举行虚拟展会以在新冠疫情肆虐之下继续提供IC测试信息
在线活动将介绍Advantest的最新半导体测试进展和SEMI演讲者对市场的展望东京, March 04, 2020 (GLOBE NEWSWIRE) -- 半导体测试设备领先供应商Advantest
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北京IC测试实验室成立 探索科研运作新模式
北京IC测试实验室成立 探索科研运作新模式 11月30日,北京集成电路测试技术联合实验室正式启动 集成电路(IC)测试是集成电路产业的重要一环。设计、制造、封装、测试四业并举,是国际集成电路产业发展的
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IC测试常见问答
我在测试的时候,有些DC参数在同样的条件下几次测试的结果相差很大。不明白是为什么?你使用的测试机台是什么型号?测试的产品是属于哪种?还有具体什么参数,相差多少?我们用的是credence kalos,
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集成电路_IC测试工作原理
1 引言本系列一共四章,下面是第一部分,主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理,内容覆盖了基本的测试原理,影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。2 数字集成电路测试的基本原理器件测试
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IC测试的创新
EDA工具加速IC测试随着IC制程节点从90nm向65nm和45nm延伸,需要测试的数据量会激增,相应地会带来测试(测试座)成本的提高(图1)。例如,从90nm到65nm时,由于增加了门数,传统的测试