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涂层膜厚测试仪原理
涂层膜厚测试仪被广泛应用于测量从0.1到50微米各种薄膜材料的厚度。无论单层或多层薄膜,简单的球磨测试都能快速准确的测定每一层薄膜的厚度。典型的试样包括CVD、 PVD、等离子喷射涂层、阳极氧化薄膜、离子溅射薄膜、化学和电镀沉积镀膜、高分子
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EDS及XRD的性能区别
1、EDS是针对一些元素的含量进行测试,XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer)能谱分析,能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰
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EDS及XRD的性能区别
1、EDS是针对一些元素的含量进行测试,XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer)能谱分析,能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰
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为何选硅做半导体材料?多角度分析。
(1)热敏性 半导体材料的电阻率与温度有密切的关系。温度升高,半导体的电阻率会明显变小。例如纯锗(Ge),温度每升高10度,其电阻率就会减少到原来的一半。(2)光电特性 很多半导体材料对光十分敏感,无光照时,不易导电;受到光照时,就变的容易
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电气柜IP54防护等级
来源: 电气论坛 IEC IP防护等级定义 IP 表示Ingress Protection(进入防护)IEC IP防护等级是电气设备安全防护的重要 IP等防护级系统提供了一个以电器设备和包装的防尘、防水和防碰撞程度来对产品进行分类的方法,这
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半导体材料是化合物吗
化合物半导体多指晶态无机化合物半导体,即是指由两种或两种以上元素以确定的原子配比形成的化合物,并具有确定的禁带宽度和能带结构等半导体性质。高性能有机半导体材料是有机光电器件的核心组成部分,是有机光电器件应用的基础。近期,中国科学院上海有机化
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TMA是什么?
热机械分析法热机械分析法(TMA)是以一定的加热速率加热试样,使试样在恒定的较小负荷下随温度升高发生形变,测量试样温度-形变曲线的方法。定义:以一定的加热速率加热试样。应用领域:浸渍实验,长期蠕变预估等分类:热膨胀法、静态热机械分析
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SEM和TEM的区别是什么?
SEM,全称为扫描电子显微镜,又称扫描电镜,英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM,全称为透射电子显微镜,又称透射电镜,英文名Transmission Electron Microscope.区别:SE
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防护等级IP54与IP55的区别是什么?
化工泵配置的电机,IP防护等级是指其防尘等级和防水等级,第一个数字表示电机的防尘等级,第二个数字表示电机的防水等级。例如电机防护等级IP55表示电机的防尘等级为5级,防水等级也为5级以此类推。目前,国内化工泵配置电机做到最高的,防尘等级为6
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EDS、EDX和EDXRF有什么区别
一、EDS是利用不同元素的X射线光子特征能量不同进行成分分析,EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的,这两者的结构完全不同。EDS能量色散谱仪,按能量展谱,主要器件为Li-Si半导体探测器.主要利用X光量子的能量不同来
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介电强度是什么意思?
介电强度是材料作为绝缘体时的电强度的量度。介电强度是一种材料作为绝缘体时的电强度的量度。它定义为试样被击穿时, 单位厚度承受的最大电压, 表示为伏特每单位厚度。物质的介电强度越大, 它作为绝缘体的质量越好。介电强度,是材料抗高电压而不产
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扬杰润奥工作怎么样
扬杰润奥工作挺不错的,加班不多,流水线自动化程度高,工作环境良好。江苏扬杰润奥半导体有限公司成立于2010年06月01日,注册地位于扬州市广陵产业园创业路,法定代表人为刘从宁。经营范围包括生产半导体分立器件、电力设备、计算机应用电子设备;销
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EDS及XRD的性能区别
1、EDS是针对一些元素的含量进行测试,XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer)能谱分析,能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰
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简述利用SEM、TEM、FTIR、Raman、CV、EIS、BET、XRD和质谱可获得什么信息?
SEM:材料的表面形貌,形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息TEM:材料的表面形貌,结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成FTIR:主要用于测试高分子有机材料,确定不同高分子键的存在,确定材料的结构。如单键,双键等等Raman:
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什么是动态热机械分析
<p>动态热机械分析<p><p><p><p>动态热机械分析(DynamicThermomechanicAnalysi
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EDS及XRD的性能区别
1、EDS是针对一些元素的含量进行测试,XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer)能谱分析,能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰
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EDS及XRD的性能区别
1、EDS是针对一些元素的含量进行测试,XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer)能谱分析,能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰
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EDS、EDX和EDXRF有什么区别
区别如下:1、EDX是荧光分析,EDS是能谱分析,EDXRF是能量色散型荧光X射线。2、EDS能量色散溥仪,按能量展谱,主要器件为Li-Si半导体探测器.主要利用X光量子的能量不同来进行元素分析。3、EDX是借助于分析试样发出的元素特
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电子显微镜发展历史是怎样的?
【历史沿革】1926年汉斯·布什研制了第一个磁力电子透镜。1931年厄恩斯特·卢斯卡和马克斯·克诺尔研制了第一台透视电子显微镜。展示这台显微镜时使用的还不是透视的样本,而是一个金属格。1986年卢斯卡为此获得诺贝尔物理学奖。1938年他在